Type-C 포고 핀 커넥터
Type-C 커넥터는 데이터, 전원 및 A/V 애플리케이션을 위한 단일 커넥터 솔루션이며 슬림한 프로파일은 모바일 장치에 적합하며 산업용 애플리케이션에 충분히 내구성이 있습니다. -C 인터페이스, Type-C 커넥터의 응용 시나리오가 증가함에 따라 고주파 신호, 기계적 특성, 전기적 성능 및 환경 변화와 같은 요인에 성능 요구 사항이 부과됩니다. 따라서 제조업체는 관련 제품을 생산할 때 완전한 테스트 세트가 필요합니다. 인증 계획과 전문 실험실의 지원 및 상담(산업 정보 丨GRL은 동관 실험실을 확장하고 새로운 테스트 기능을 추가함)은 제품이 품질 조건을 충족하고 기능 요구 사항을 완벽하게 표시하도록 보장할 수 있습니다. 전문 실험실 및 인증 기관은 또한 제조업체의 제품이 협회의 표준을 충족할 수 있는지 확인하기 위해 관련 테스트 검증을 수행하기 위해 테스트(전기 테스트), 기계적 테스트(기계적 테스트) 및 환경 테스트(환경 테스트)에 필요한 테스트 내용, 관련 인증 및 테스트 센터의 제조업체가 검증됨 이 과정에서 생산 매개변수도 수확하여 후속 생산을 용이하게 합니다. 제품의 신뢰성과 연속성을 보장하기 위해 오늘 우리는 이 인터페이스의 생산 과정을 간략하게 이해할 것입니다.
Type-C 커넥터의 제조 공정에 대한 간략한 설명은 공정을 스탬핑, 전기도금(PlaTIng), 사출 성형(몰딩) 및 조립(조립)의 4가지 주요 제조 단계로 나눌 수 있습니다.
스탬핑
Type-C 커넥터의 제조 공정은 일반적으로 스탬프 플러그로 시작합니다. 스탬핑은 대형 및 중형 고속 스탬핑 기계를 기반으로하며 Type-C 커넥터 (플러그)는 얇은 금속 스트립에서 스탬핑됩니다. 금속 스트립의 큰 코일의 한쪽 끝은 펀칭기의 앞쪽 끝으로 보내지고 다른 쪽 끝은 펀칭기의 유압 프레스 작업대를 가로질러 편심 휠 주위에 감깁니다.
전기도금 공정(PlaTing)
커넥터 핀 스탬핑이 완료된 후 다음 공정은 전기 도금 공정(PlaTIng)입니다. 이 단계에서 커넥터의 전자 접촉 표면은 다양한 금속 재료 코팅, 니켈 전기 도금, 주석 전기 도금 및 반금 도금으로 코팅되며 공기 산화를 피하고 전도성을 향상시킵니다. 핀 비틀림, 파손 또는 변형과 같은 스탬핑 단계와 유사한 문제는 스탬핑 핀이 전기 도금 장비에 공급될 때도 발생합니다. 핀은 또한 스탬프 핀을 전기도금 장비에 공급하는 전체 과정에서 뒤틀리거나 금이 가거나 변형됩니다. 그리고 이 품질의 단점은 위의 기술을 기반으로 매우 쉽게 감지할 수 있습니다. 그러나 대부분의 머신 비전 시스템 공급업체의 경우 전기도금 공정의 많은 품질 결함이 검사 시스템의 "금지 구역"으로 남아 있습니다. Type-C 커넥터 제조업체는 커넥터 핀의 도금된 표면에서 작은 긁힘 및 핀홀과 같은 일관되지 않은 다양한 결함을 감지할 수 있는 검사 시스템을 원합니다. 이러한 결함은 다른 제품(예: 알루미늄 캔 바닥 또는 기타 비교적 평평한 표면)에서 쉽게 식별됩니다. 대부분의 Type-C 커넥터는 불규칙하고 각진 표면 디자인으로 인해 육안 검사 시스템에서 필요한 이러한 미묘한 결함을 식별하기 어렵습니다.
사출 성형(몰딩)
사출 성형(Molding)은 금속 재질의 타이어 필름에 용융 플라스틱을 주입한 후 급속 냉각 성형하여 형성되는 전자 USB 커넥터의 플라스틱 상자 시트를 말합니다. 용융된 플라스틱이 막을 채우지 못하면 소위 "누설"이 발생합니다. 이것은 사출 성형 단계에서 감지해야 하는 일반적인 결함입니다. 다른 결함에는 소켓을 채우거나 부분적으로 막는 것이 포함됩니다(조립 후 핀에 적절한 연결을 위해 깨끗하고 매끄럽게 유지해야 함). 사출 후 품질 검사를 위한 머신 비전 시스템은 백라이트를 사용하여 카트리지 홀더 및 플러그 잭의 누출을 쉽게 식별할 수 있으므로 구현이 비교적 간단합니다. 사출 성형 공정에서 반드시 확인해야 하는 대표적인 불량입니다. 다른 단점으로는 소켓의 전체 또는 부분 막힘이 있습니다(최종 조립에서 핀과의 적절한 결합을 위해 깨끗하고 장애물이 없어야 함).
집회
Type-C 커넥터 제조의 최종 공정은 완제품 조립(Assembly)입니다. 전기도금 공정과 사출 성형 상자 시트를 사용하여 핀을 연결하고 조립하는 방법에는 개별 플러그 또는 결합 플러그의 두 가지가 있습니다. 한 번에 하나의 핀이 연결됩니다. 콤비네이션 플러그는 한 쌍의 플러그로 형성되어 한 쌍의 플러그를 형성합니다. 이는 여러 핀이 한 번에 상자 소켓에 연결된다는 것을 의미합니다. 조립에 어떤 연결 방법이 사용되든 제조업체는 조립 단계에서 모든 플러그에 누출이 있는지 여부를 감지하고 위치를 올바르게 지정하여 모든 핀에 오류와 누출이 있을 수 없으며 정확한 위치가 적절해야 합니다.
Type-C 커넥터 테스트 검증 프로세스
삽입력
커넥터 삽입력 테스트는 짝을 이루는 암수 끝의 양쪽 끝에서 전자 커넥터를 삽입하고 빼는 데 필요한 힘을 나타냅니다. 다음 시험은 삽입력, 인발력, 소성 유지력에 적용되며, 플러그-인 힘은 커넥터의 중요한 기계적 특성 및 매개변수이며, 그 크기는 커넥터의 느낌 및 내부 설계 구조에 영향을 미칩니다. 현재 가장 널리 사용되는 휴대폰인 기판 대 기판 커넥터의 플러그인 포스 전류와 전도 신호를 전송할 수 있는 파편 마이크로니들 모듈을 테스트에 사용할 수 있어 안정성에 도움이 됩니다. 테스트의. 1-50A 범위의 큰 전류를 전달할 수 있으며 과전류가 안정적이고 매끄럽고 연결 기능이 좋습니다. 이제 삽입력 테스트를 위해 먼저 내구성을 10{6}}번 테스트하고 조건은 1시간 50시간 동안 200번입니다.
시험시간은 50시간, 평균 1시간 200회
고주파 테스트
기능적인 면에서 USB는 예전에는 그냥 케이블이었는데 USB3.1의 Emark 칩이 개입되면서 오늘날의 케이블은 링크 장치라고 해야 하기에 복잡도가 완전히 달라졌다. 칩의 기능은 더 강력해야 합니다(인코딩, 압축 등). 그러나 사실 현재 대부분의 USB 케이블은 항상 온라인 상태이며 기능은 데이터를 전송하는 것입니다(플러그의 실제 고주파수 요구 사항은 데이터 전송에 거의 영향을 미치지 않으므로 테스트를 위해 협회에 보내는 부품을 제외하고 일반적인 대량 생산 커넥터는 고주파 임피던스 성능을 테스트하지 않습니다), 장치 충전(현재 우리 응용 프로그램의 가장 큰 기능은 장치를 충전하려면 데이터 기능이 있지만 실제 응용 시나리오는 매우 이 기능을 보호하려면 커넥터의 설계 및 생산 응용부터 시작해야 하므로 커넥터에 많은 설계 응용 프로그램이 있습니다. 재질, 절연, 단자와 쉘 사이의 단락 방지, 일부 저가 커넥터는 직접 생략될 가능성이 높으며, 이를 전투용 커넥터라고 합니다. 요구 사항은 사용하지 않는 것이 좋으며 끝없는 문제가 있습니다.
